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“EG2001 EG2001X EG2001CX Prober用打点器（inker）”参数说明
| 种类： | 其他 | 相数： | 其他 |
| 操作机构： | 其他 | 驱动方式： | 其他 |
| 动作方式： | 其他 | 型号： | EG2001 EG2001X EG200 |
| 规格： | EG2001 EG2001X EG200 | 商标： | 其他 |
| 包装： | 其他 |
“EG2001 EG2001X EG2001CX Prober用打点器（inker）”详细介绍
EG2001 EG2001X EG2001CX Prober用打点器（inker）
产品规格型号：4CT/5CT
PART NUMBER:340-1100
产地：美国/中国
产品特点：电压驱动型（24V/36V/48V）
半导体器件与集成电路制造工艺中，从单晶硅棒的制取到最终器件制造的完成需经过复杂的工序，粗略地划分可分为前道工序与后道工序，而探针测试台（Prober）正好是前后道工序之间用于对半导体器件芯片的电参数特性进行测试的关键设备，它可以将电参数特性不符合要求的芯片用打点器（INKER）做一明显标记，便于在后道工序中及时将其剔除，这样就有效地提高了半导体器件生产的成品率，大大降低器件的制造成本。
